应用场景

薄膜类视觉检测

检测方案

穿透式打光方式针对薄膜表面
漏涂、针孔（孔洞）、异物、爆裂等缺陷
连续捕捉各类缺陷，实时分析、判断、反馈

01.
采用标准硬件，售后维护成本低。可拓展系统，便于系统改造升级，提高精度

02.
基于CPU+GPU处理架构HIS系统。全面满足高精度高速度生产线，从容处理海量数据

03.
高亮高均匀性光源，使用寿命50000小时以上

04.
稳定便捷操作系统，丰富功能可支持定制化开发。先进专家缺陷分类系统及人工智能学习分类。快速投入生产并解决周期性缺陷
铜/铝箔表面缺陷及针孔检测

检测方案

基于光学图像检测技术
结合人工智能自主学习算法
提供工业视觉整体解决方案

01.
采用标准硬件，售后维护成本低。可拓展系统，便于系统改造升级，提高精度

02.
基于CPU+GPU处理架构HIS系统。全面满足高精度高速度生产线，从容处理海量数据

03.
高亮高均匀性光源，使用寿命50000小时以上

04.
稳定便捷操作系统，丰富功能可支持定制化开发。先进专家缺陷分类系统及人工智能学习分类。快速投入生产并解决周期性缺陷
板带材视觉检测

检测方案

针对板材胚料表面划痕
通过系统精确定位表面缺陷位置和面积
标定建议磨削坐标与区域的尺寸

01.
采用标准硬件，售后维护成本低。可拓展系统，便于系统改造升级，提高精度

02.
基于CPU+GPU处理架构HIS系统。全面满足高精度高速度生产线，从容处理海量数据

03.
高亮高均匀性光源，使用寿命50000小时以上

04.
稳定便捷操作系统，丰富功能可支持定制化开发。先进专家缺陷分类系统及人工智能学习分类。快速投入生产并解决周期性缺陷
卷材端面视觉检测

检测方案

卷取后安装的工艺检测设备
自动捕获和分析卷材端面品质
针对伸缩、卷边、折叠、开裂等缺陷

01.
采用标准硬件，售后维护成本低。可拓展系统，便于系统改造升级，提高精度

02.
基于CPU+GPU处理架构HIS系统。全面满足高精度高速度生产线，从容处理海量数据

03.
高亮高均匀性光源，使用寿命50000小时以上

04.
稳定便捷操作系统，丰富功能可支持定制化开发。先进专家缺陷分类系统及人工智能学习分类。快速投入生产并解决周期性缺陷
晶圆视觉检测

检测方案

晶圆体制造中
进行电路成型所需的多步骤薄膜工艺
针对晶圆边缘蚀刻机加工的坡口区域

01.
采用标准硬件，售后维护成本低。可拓展系统，便于系统改造升级，提高精度

02.
基于CPU+GPU处理架构HIS系统。全面满足高精度高速度生产线，从容处理海量数据

03.
高亮高均匀性光源，使用寿命50000小时以上

04.
稳定便捷操作系统，丰富功能可支持定制化开发。先进专家缺陷分类系统及人工智能学习分类。快速投入生产并解决周期性缺陷
厚度/面密度解决方案

检测方案

基于X射线/β射线/激光技术
辅助工厂快速进入正常生产状态
保障日常生产过程中面密度横向偏差稳定

01.
超高重复精度X射线±0.05g/㎡,β射线±0.08g/㎡,激光±0.3μm

02.
超高信噪比测量传感器专业算法的科学测量软件系统

03.
丰富增值功能。在线测量与线图呈现、数据存储。追溯、闭环控制、SPC与卷报

04.
X射线测厚仪光斑，更高条纹分辨。及时和强大的软件个性化定制能力、现场服务与技术支持能力
涂布模头自动调节解决方案

检测方案

涂布厚度5um-3000um，涂布精度≤2um
采用PID技术，并结合模糊控制技术，实现闭环控制
实现在正常工作状态下的无人值守，对异常情况及时告警，并中止自动调节

01.
柔性化工艺控制技术，适应了不同客户的工艺需求；闭环控制的模块化技术，能更好对接客户的不同场景。

02.
通过设定调节区间及其对应的预警值，更好对产品质量进行管控

03.
实时监测厚度（面密度），根据监测数据对产品生产线进行自动调节

04.
自动将厚度（面密度）调节在产品标准范围内，使横向位置的值呈水平分布。